| Název předmětu | Charakterizace materiálů |
|---|---|
| Kód předmětu | UTM/PX323 |
| Organizační forma výuky | Přednáška |
| Úroveň předmětu | Bakalářský |
| Rok studia | 2 |
| Semestr | Zimní a letní |
| Počet ECTS kreditů | 4 |
| Vyučovací jazyk | Čeština |
| Statut předmětu | Povinný |
| Způsob výuky | nespecifikováno |
| Studijní praxe | nespecifikováno |
| Doporučené volitelné součásti programu | Není |
| Vyučující |
|---|
|
| Obsah předmětu |
|
nespecifikováno
|
| Studijní aktivity a metody výuky |
| nespecifikováno |
| Výstupy z učení |
|
1.- 3. týden: Principy a fyzikální základ mikroskopických a difrakčních metod pro strukturní analýzu. 4. - 9. týden: Mikroskopické techniky: - optický mikroskop - SEM (Scanning Electron Microscopy) - TEM (Transmition Electron Microscopy) - SPM (Scanning Probe Microscopies) - STM (Scanning Tunneling Microscope) - AFM (Atomic Force Microscopy) 10. - 14. týden: Difrakční a rozptylové metody: - LEED (Low Energy Electron Diffraction) - RHEED (Reflection High Energy Electron Diffraction) - XRD (X-Ray Diffraction) - GISAX (Grazing-Incidence Small-Angle X-Ray Scattering) - Neutronová difrakce
|
| Předpoklady |
|
Studenti se v průběhu přednášky seznámí s principy a možnosti využití základních mikroskopických metod a difrakčních metod pro strukturní analýzy materiálů. Absolvent předmětu získá dále přehled nejdůležitějších technik využívaných k popisu morfologie a topografie povrchů a k analýze krystalové struktury.
|
| Hodnoticí metody a kritéria |
|
nespecifikováno
|
| Doporučená literatura |
|
|
| Studijní plány, ve kterých se předmět nachází |
| Fakulta | Studijní plán (Verze) | Kategorie studijního oboru/specializace | Doporučený semestr | |
|---|---|---|---|---|
| Fakulta: Fakulta strojního inženýrství | Studijní plán (Verze): Materiály (17) | Kategorie: Speciální a interdisciplinární obory | 2 | Doporučený ročník:2, Doporučený semestr: Zimní |