| Název předmětu | Pokročilé metody difrakční analýzy v materiálovém výzkumu |
|---|---|
| Kód předmětu | KFY/PD304 |
| Organizační forma výuky | Přednáška |
| Úroveň předmětu | Doktorský |
| Rok studia | nespecifikován |
| Semestr | Zimní a letní |
| Počet ECTS kreditů | 10 |
| Vyučovací jazyk | Čeština |
| Statut předmětu | Povinně-volitelný |
| Způsob výuky | Kontaktní |
| Studijní praxe | Nejedná se o pracovní stáž |
| Doporučené volitelné součásti programu | Není |
| Vyučující |
|---|
|
| Obsah předmětu |
|
nespecifikováno
|
| Studijní aktivity a metody výuky |
| nespecifikováno |
| Výstupy z učení |
|
Předmět poskytne studentům širší teoretický základ pro interpretace difraktogramů v reciprokém prostoru, tj. zavede reciproký prostor a konstrukce krystalových mříží v reciprokém prostoru a objasní matematické vztahy mezi přímým a reciprokým prostorem a splnění difrakční podmínky v reciprokém prostoru, vysvětlí výhody zavedení reciprokého prostoru při interpretaci difraktogramů, zejména při studiu přednostní orientace krystalitů a orientačních distribučních funkcí texturovaných polykrystalických materiálů, která se vyskytuje ve většině nanomateriálů (nanovrstvy, nanopovrchy a nanovlákna). Pozornost bude věnována i pokročilé profilové analýze difraktogramů a zaměří se na specifika difrakční analýzy pro: - polykrystalické tenké vrstvy a nanopovrchy - problematiku multivrstev a fázových rozhraní - polykrystalické nanovlákenné struktury - polymerní amorfní struktury V závěru předmětu bude kapitola o technice maloúhlového rozptylu a jeho využití v materiálovém výzkumu.
|
| Předpoklady |
|
nespecifikováno
|
| Hodnoticí metody a kritéria |
|
nespecifikováno
|
| Doporučená literatura |
|
|
| Studijní plány, ve kterých se předmět nachází |
| Fakulta | Studijní plán (Verze) | Kategorie studijního oboru/specializace | Doporučený semestr |
|---|