Předmět: Komplexní analýza materiálů metodami elektronové mikroskopie a iontové

« Zpět
Název předmětu Komplexní analýza materiálů metodami elektronové mikroskopie a iontové
Kód předmětu KFY/PD202
Organizační forma výuky Přednáška + Cvičení
Úroveň předmětu Doktorský
Rok studia nespecifikován
Semestr Letní
Počet ECTS kreditů 15
Vyučovací jazyk Čeština
Statut předmětu Povinně-volitelný
Způsob výuky Kontaktní
Studijní praxe Nejedná se o pracovní stáž
Doporučené volitelné součásti programu Není
Vyučující
  • Lorinčík Jan, RNDr. CSc.
Obsah předmětu
nespecifikováno

Studijní aktivity a metody výuky
nespecifikováno
Výstupy z učení
Přednáška je zaměřena na způsoby přípravy a charakterizace nových progresivních a funkčních povrchových materiálů pomocí multifunčních systémů typu FIB-SEM. V první části se přednáška zaměřuje na metody využívající primárně elektrony k zobrazování povrchů (metody SEM a TEM) k určování složení (EDS, WDS) a krystalografické struktury (EBSD). V další části se zaměřujeme na metody využívající primárně nabité atomární částice - ionty s energiemi do 30 keV, využívané při studiu složení povrchů metodami SIMS (statický i dynamický) a iontově indukované elektronové emise. Dále jsou diskutovány možnosti využívání iontových svazků pro cílené opracování materiálů, včetně problematiky tvorby lamel pro TEM v přístroji FIB-SEM. Jedná se o metody modifikace a mikrostrukturování povrchů (EBIE, EBL, FIB) pro aplikace v nejrůznějších odvětvích a metody depozice a růstu funkčních struktur a materiálů využívající elektronových (EBID) a iontových (IBID) svazků. Praktické prokázání znalostí provedením měření a vypracováním protokolu na vybrané problematice z okruhu přednášek.

Předpoklady
nespecifikováno

Hodnoticí metody a kritéria
nespecifikováno
Protokol z praktického měření na vybrané problematice je podmínkou získání zápočtu, zkouška bude provedena ústním zkoušením (2 náhodně vylosované otázky)
Doporučená literatura


Studijní plány, ve kterých se předmět nachází
Fakulta Studijní plán (Verze) Kategorie studijního oboru/specializace Doporučený ročník Doporučený semestr