|
Vyučující
|
-
Kormunda Martin, doc. Ing. Ph.D.
-
Pavlík Jaroslav, doc. RNDr. CSc.
|
|
Obsah předmětu
|
1. Principy a fyzikální základ spektroskopických metod pro analýzu složení látek. 2. Optické, emisní, absorpční a fluorescenční metody - OES (Optical Emission spectroscopy), 3. GD OES (Glow Discharge Optical Emission spektroscopy), 4. IRS (Infrared Spectroscopy), 5. Raman spectroscopy, 6. RBS (Rutherford Backscattering Spectrometry), 7. PIXE (Proton Induced X-ray Emission), 8. XRF (Rentgenová fluorescence), Ellipsometrie 9. Elektronové ? AES (Auger Electron Spectroscopy) EELS (Electron Energy Loss Spectrometry), 11. XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy), UPS, 12. Iontové, hmotnostní ? SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry), GD QMS (Glow Discharge Quadrupole Mass Spectrometry), ESD 13. Optické metody ? elipsometrie.
|
|
Studijní aktivity a metody výuky
|
|
nespecifikováno
|
|
Výstupy z učení
|
V průběhu přednášky budou studenti seznámeni s principy a možností využití základních metod analýzy složení materiálů. Po uvedení základních parametrů a řešených problémů následuje přehled nejdůležitějších technik využívaných k charakterizaci chemického složení povrchů.
|
|
Předpoklady
|
nespecifikováno
|
|
Hodnoticí metody a kritéria
|
nespecifikováno
Zkoušku studenti splní zodpovězením 3 vylosovaných otázek z okruhů přednášky.
|
|
Doporučená literatura
|
-
D. B. Williams, C. B. Carter. Transmission Elektron Mikroskopy: A Textbook for Materials Science. Plenum Press - New York 1996.
-
G. Ertl, J. Küppers. Low Energy Electrons and Chemistry, Verlag Chemie, GmbH, 1974.
-
Gary Attard, Colin Barnes. Surfaces, Oxford University Press, 1998.
-
Kittel Ch. Úvod do fyziky pevných látek, Academia, Praha,. 1985.
-
Mironov. Fundamentals of Scanning Probe Microscopy, THE RUSSIAN ACADEMY OF SCIENCESINSTITUTE OF.
|