Předmět: Charakterizace materiálů I

« Zpět
Název předmětu Charakterizace materiálů I
Kód předmětu KFY/CHM1
Organizační forma výuky Přednáška
Úroveň předmětu Bakalářský
Rok studia 2
Semestr Letní
Počet ECTS kreditů 4
Vyučovací jazyk Čeština
Statut předmětu Povinný
Způsob výuky Kontaktní
Studijní praxe Nejedná se o pracovní stáž
Doporučené volitelné součásti programu Není
Vyučující
  • Pavlík Jaroslav, doc. RNDr. CSc.
  • Čapková Pavla, prof. RNDr. DrSc.
  • Kormunda Martin, doc. Ing. Ph.D.
Obsah předmětu
1. Úvod do charakterizačních metod a motivace pro analýzy materiálů Blok - Mikroskopické techniky: 2. Optická mikroskopie s demonstrací přístroje 3. TEM (Transmition Electron Microscopy) 4.-5. SEM (Scanning Electron Microscopy) s demonstrací přístroje 6. STM (Scanning Tunneling Microscope) s demonstrací přístroje 7.-8. AFM (Atomic Force Microscopy) s demonstrací přístroje Blok - Difrakční a rozptylové metody: 9.-10. XRD (X-Ray Diffraction) s demonstrací přístroje 11. LEED (Low Energy Electron Diffraction), RHEED (Reflection High Energy Electron Diffraction) s demonstrací přístroje 12. GISAX (Grazing-Incidence Small-Angle X-Ray Scattering), Neutronová difrakce Blok - Mechanické vlastnosti 13.-14. Metody nanoindentace, (nano)tribologie a povrchová energie s demonstrací přístrojů

Studijní aktivity a metody výuky
nespecifikováno
Výstupy z učení
V průběhu přednášky budou studenti seznámeni s principy a možností využití základních mikroskopických metod a difrakčních metod pro strukturní a topologickou analýzu. V poslední části přednášek budou uvedeny metody analýzy zejména mechanických vlastností tenkých vrstev a povrchů. Přednáška je rozdělena na nejdůležitější techniky využívané k popisu morfologie, topografie, povrchů a k analýze krystalové struktury látek. Techniky jsou z velké části také prakticky demonstrovány na experimentálním zařízení pro zlepšení kvality výuky. Prakticky si studenti metody ověří v navazujících praktikách.

Předpoklady
Výuka v angličtině je určena pro erasmové a zahraniční studenty. Výuka v případě malého počtu studentů probíhá formou individuálních konzultací.

Hodnoticí metody a kritéria
nespecifikováno
Zkoušku studenti splní zodpovězením 3 vylosovaných otázek z okruhů přednášky.
Doporučená literatura
  • D. B. Williams, C. B. Carter. Transmission Elektron Mikroskopy: A Textbook for Materials Science. Plenum Press - New York 1996.
  • G. Ertl, J. Küppers. Low Energy Electrons and Chemistry, Verlag Chemie, GmbH, 1974.
  • Gary Attard, Colin Barnes. Surfaces, Oxford University Press, 1998.
  • Kittel Ch. Úvod do fyziky pevných látek, Academia, Praha,. 1985.
  • Milton Ohring. Materials Science of Thin Films, Academic Press, 2002.


Studijní plány, ve kterých se předmět nachází
Fakulta Studijní plán (Verze) Kategorie studijního oboru/specializace Doporučený ročník Doporučený semestr