|
Vyučující
|
-
Pavluch Jiří, doc. RNDr. CSc.
-
Kormunda Martin, doc. Ing. Ph.D.
-
Matoušek Jindřich, Mgr. Ph.D.
|
|
Obsah předmětu
|
Přednáška je zaměřena na osvojení základních metod studia elektronové a krystalické struktury povrchů pevných látek pomocí spektroskopie elektronů. Jde zejména o spektroskopii Augerových elektronů (AES) a její úhlově rozlišenou verzi (AREAS) a rentgenovou (XPS) a ultrafialovou fotoelektronovou spektroskopii (UPS) nebo o spektroskopii charakteristických ztrát (EELS). Přednáška pojednává jak o jejich principech a příslušných experimentálních uspořádáních, tak o otázkách na nich založené kvalitativní i kvantitativní povrchové analýzy včetně diskuze principiálních omezení a staví na základních fyzikálních znalostech. Pro výše uvedené metody budou vždy také na příkladech prakticky významných materiálů dokumentovány jejich vlastnosti a praktický význam a aplikační potenciál.
|
|
Studijní aktivity a metody výuky
|
|
nespecifikováno
|
|
Výstupy z učení
|
|
|
|
Předpoklady
|
nespecifikováno
|
|
Hodnoticí metody a kritéria
|
nespecifikováno
Protokol z praktického měření na vybrané problematice je podmínkou získání zápočtu, zkouška bude provedena ústním zkoušením (2 náhodně vylosované otázky)
|
|
Doporučená literatura
|
-
D. Brigss, J. E. Grant. Surface Analysis by Auger and X-Ray Photoelectron Spectroscopy, IM Publications. ISBN 13:978-1901019049.
|