|
Vyučující
|
|
|
|
Obsah předmětu
|
Přednáška je zaměřena fyzikální a praktické základy metod pro analýzu progresivních materiálů a struktur. Přednáška se zaměřuje na metody SEM a TEM včetně typických doprovodných metod. V první části se přednáška zaměřuje na metody využívající primárně nabité částice - elektrony, k zobrazování povrchů (metody SEM a TEM) anebo k určování složení (EDS, WDS, EBSD). Včetně moderních metod tomografie. V další části se zaměřujeme na metody doprovodné, které jsou často součástí SEM mikroskopů a využívají primárně nabité částice - ionty s energiemi do 30 keV. Zejména bude probírána častá aplikace iontových svazků pro cílené opracování materiálů, kde je zejména diskutována problematika tvorby lamem pro TEM v přístroji FIB-SEM. Také jsou diskutovány metody využívající iontovou asistenci pro růst vrstev (GIS), což je nedílná součást přípravy vzorků pro TEM. Praktické prokázání znalostí provedením měření a vypracováním protokolu na vybrané problematice z okruhu přednášek.
|
|
Studijní aktivity a metody výuky
|
|
nespecifikováno
|
|
Výstupy z učení
|
|
|
|
Předpoklady
|
nespecifikováno
|
|
Hodnoticí metody a kritéria
|
nespecifikováno
Protokol z praktického měření na vybrané problematice je podmínkou získání zápočtu, zkouška bude provedena ústním zkoušením (2 náhodně vylosované otázky)
|
|
Doporučená literatura
|
-
J. Goldstein, D. Newbury, D. Joy, Ch. Lyman, P. Echlin, E. Lifshin, L. Sawyer, and J. Michael. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis.
-
L. A. Giannuzzi, F. A. Stevie. Introduction to Focused Ion Beams: Instrumentation, Theory, Techniques and Practice.
|