|
Vyučující
|
-
Benada Oldřich, RNDr. CSc.
|
|
Obsah předmětu
|
nespecifikováno
|
|
Studijní aktivity a metody výuky
|
|
nespecifikováno
|
|
Výstupy z učení
|
Absolvováním kursu studenti získají informace o vysokorozlišovací rastrovací elektronové mikroskopii a jejích praktických aplikací s ohledem na nevodivé vzorky. Součástí kursu budou teoretické přednášky i praktická příprava vzorků a jejich analýza v rastrovacím elektronovém mikroskopu. Základní probírané okruhy (1.-8.): charakteristické vlastnosti elektronů a jejich využití pro zobrazování, zdroje elektronů a jejich praktické využití v elektronové mikroskopii, konstrukce vysokorozlišovacího rastrovacího elektronového mikroskopu a její srovnání s klasickými přístroji, interakce elektronového paprsku se vzorkem, moderní detektory pro vysokorozlišovací rastrovací elektronový mikroskop, rastrovací elektronový mikroskop jako analytický nástroj. Praktická část (9.-14.) bude zaměřena na přípravu vzorků z nevodivých materiálů (nanomateriály a nanotextilie, biologické vzorky), různé strategie pro optimální nastavení mikroskopu s ohledem na typ analyzovaného vzorku, přímé srovnání získaných dat z vysokorozlišovacího a standardního rastrovacího elektronového mikroskopu.
|
|
Předpoklady
|
nespecifikováno
|
|
Hodnoticí metody a kritéria
|
nespecifikováno
Znalostní test (min. 70%) plus protokoly či presentace z praktické části kursu
|
|
Doporučená literatura
|
-
Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman, Patrick Echlin, Eric Lifshin, Linda C. Sawyer, J.R. Michael (Eds.). Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Kluwer Academic/Plenum Publishers, New York/Boston/Dordrecht/London/Moscow, 2003, pp. 689.
-
Krumeich, F. (2016). Properties of Electrons, their Interactions with Matter and Applications in Electron Microscopy (http://www.microscopy.ethz.ch/downloads/Interactions.pdf).
-
Krumeich, F. (2018). Introduction into Transmission and Scanning Transmission Electron Microscopy (http://www.microscopy.ethz.ch/downloads/TEM.pdf).
|