Předmět: Simulace průchodu nabitých částic krystalickými a amorfními materiály

» Seznam fakult » PRF » KFY
Název předmětu Simulace průchodu nabitých částic krystalickými a amorfními materiály
Kód předmětu KFY/PM306
Organizační forma výuky Přednáška + Cvičení
Úroveň předmětu Doktorský
Rok studia nespecifikován
Semestr Zimní a letní
Počet ECTS kreditů 0
Vyučovací jazyk Čeština
Statut předmětu Povinně-volitelný
Způsob výuky Kontaktní
Studijní praxe Nejedná se o pracovní stáž
Doporučené volitelné součásti programu Není
Vyučující
  • Macková Anna, prof. RNDr. Ph.D.
Obsah předmětu
Kurz je určený zejména studentům, kteří se v rámci své dizertační práce zabývají modelováním interakcí částic s pevnými látkami. Kurz seznamuje se základními přístupy v modelování průchodu nabitých částic materiálem, představuje simulační programy v této oblasti SRIM (The Stopping and Range of Ions in Matter), FLUX (software pro iontové kanálování v krystalických materiálech), a dále programy pro generování spekter odražených iontů v metodě Rutherfordovského zpětného rozptylu (RBS), elastického dopředného rozptylu (ERDA) a analýze pomocí jaderných reakcí (NRA) a to SIMNRA a WiNDF (komplexní vyhodnocovací program pro více iontových analytických metod): - Průchod nabitých částic pevnou látkou ? energetické ztráty v materiálu - MC simulace průchodu iontů látkou pomocí programu SRIM - Elastické a inelastické procesy probíhající po dopadu nabitých částic na pevnou látku - Základy jaderných analytických iontových metod ? RBS, ERDA, kvantitavní a kvalitativní analýza - Simulace RBS, ERDA a NRA spekter s využitím SIMNRA programu - Základy jaderných analytických iontových metod ? PIXE, PIGE, NRA, kvantitavní a kvalitativní analýza - Simulace PIXE, PIGE, RBS, ERDA s využitím programu WiNDF - Metoda iontového kanálování v krystalických materiálech - Simulace kanálovacího efektu programem FLUX, generování 2 D map iontového toku pro různé krystalické struktury - Simulace kanálovacích spekter iontů programem FLUX pro GaN, Si a generování úhlových skenů spolu s polohováním dopantů v krystalické mřížce - Simulace - Praktická cvičení v laboratoři Tandetronu ÚJF AV ČR, v. v. i.

Studijní aktivity a metody výuky
nespecifikováno
Výstupy z učení
Kurz je určený zejména studentům, kteří se v rámci své dizertační práce zabývají modelováním interakcí částic s pevnými látkami. Kurz seznamuje se základními přístupy v modelování průchodu nabitých částic materiálem, představuje simulační programy v této oblasti SRIM (The Stopping and Range of Ions in Matter), FLUX (software pro iontové kanálování v krystalických materiálech), a dále programy pro generování spekter odražených iontů v metodě Rutherfordovského zpětného rozptylu (RBS), elastického dopředného rozptylu (ERDA) a analýze pomocí jaderných reakcí (NRA) a to SIMNRA a WiNDF (komplexní vyhodnocovací program pro více iontových analytických metod): - Průchod nabitých částic pevnou látkou ? energetické ztráty v materiálu - MC simulace průchodu iontů látkou pomocí programu SRIM - Elastické a inelastické procesy probíhající po dopadu nabitých částic na pevnou látku - Základy jaderných analytických iontových metod ? RBS, ERDA, kvantitavní a kvalitativní analýza - Simulace RBS, ERDA a NRA spekter s využitím SIMNRA programu - Základy jaderných analytických iontových metod ? PIXE, PIGE, NRA, kvantitavní a kvalitativní analýza - Simulace PIXE, PIGE, RBS, ERDA s využitím programu WiNDF - Metoda iontového kanálování v krystalických materiálech - Simulace kanálovacího efektu programem FLUX, generování 2 D map iontového toku pro různé krystalické struktury - Simulace kanálovacích spekter iontů programem FLUX pro GaN, Si a generování úhlových skenů spolu s polohováním dopantů v krystalické mřížce - Simulace - Praktická cvičení v laboratoři Tandetronu ÚJF AV ČR, v. v. i.

Předpoklady
nespecifikováno

Hodnoticí metody a kritéria
nespecifikováno
Doporučená literatura


Studijní plány, ve kterých se předmět nachází
Fakulta Studijní plán (Verze) Kategorie studijního oboru/specializace Doporučený ročník Doporučený semestr