| Název předmětu | Komplexní analýza materiálů metodami elektronové mikroskopie a iontové |
|---|---|
| Kód předmětu | KFY/PD202 |
| Organizační forma výuky | Přednáška + Cvičení |
| Úroveň předmětu | Doktorský |
| Rok studia | nespecifikován |
| Semestr | Letní |
| Počet ECTS kreditů | 15 |
| Vyučovací jazyk | Čeština |
| Statut předmětu | Povinně-volitelný |
| Způsob výuky | Kontaktní |
| Studijní praxe | Nejedná se o pracovní stáž |
| Doporučené volitelné součásti programu | Není |
| Vyučující |
|---|
|
| Obsah předmětu |
|
nespecifikováno
|
| Studijní aktivity a metody výuky |
| nespecifikováno |
| Výstupy z učení |
|
Přednáška je zaměřena na způsoby přípravy a charakterizace nových progresivních a funkčních povrchových materiálů pomocí multifunčních systémů typu FIB-SEM. V první části se přednáška zaměřuje na metody využívající primárně elektrony k zobrazování povrchů (metody SEM a TEM) k určování složení (EDS, WDS) a krystalografické struktury (EBSD). V další části se zaměřujeme na metody využívající primárně nabité atomární částice - ionty s energiemi do 30 keV, využívané při studiu složení povrchů metodami SIMS (statický i dynamický) a iontově indukované elektronové emise. Dále jsou diskutovány možnosti využívání iontových svazků pro cílené opracování materiálů, včetně problematiky tvorby lamel pro TEM v přístroji FIB-SEM. Jedná se o metody modifikace a mikrostrukturování povrchů (EBIE, EBL, FIB) pro aplikace v nejrůznějších odvětvích a metody depozice a růstu funkčních struktur a materiálů využívající elektronových (EBID) a iontových (IBID) svazků. Praktické prokázání znalostí provedením měření a vypracováním protokolu na vybrané problematice z okruhu přednášek.
|
| Předpoklady |
|
nespecifikováno
|
| Hodnoticí metody a kritéria |
|
nespecifikováno
Protokol z praktického měření na vybrané problematice je podmínkou získání zápočtu, zkouška bude provedena ústním zkoušením (2 náhodně vylosované otázky) |
| Doporučená literatura |
|
|
| Studijní plány, ve kterých se předmět nachází |