Přednáška je zaměřena na fyzikální popis hlavních procesů probíhající při interakci nabitých částic s pevnou látkou, kdy dochází k řadě elastických a inelastických procesů, kterých se účastní dopadající ionty a atomy terčového materiálu. Součástí přednášky je základní popis těchto jevů, jejich fyzikálních principů a dále použití těchto procesů pro kvalitativní a kvantitavní prvkovou analýzu materiálů. V přednášce jsou akcentovány principy a aplikace iontových analytických metod, které se používají pro studium vlastností povrchů a rozhraní pevných látek. A přímo diskutovány význačné aplikace těchto principů v metodách využívajících pro analýzu pevných látek iontové svazky v elastických procesech s terčovými jádry (RBS - Rutherfordův zpětný rozptyl, ERDA - Analýza dopředně vyražených iontů, RBS-channeling) a v inelastických procesech s atomovým obalem terčových atomů případně jaderných reakcích (PIXE - protony buzená retgenovská fluorescence, NRA - analýza pomocí jaderných reakcí). V závěru přednášky je presentován přehled metod, jejich použití a srovnání analytických možností, které poskytují (citlivost, hloubkové a plošné rozlišení, nejnižší detekovatelná dávka, informační hloubka atd.). Praktické prokázání znalostí provedením měření a vypracováním protokolu na vybrané problematice z okruhu přednášek. [1] J. Tirira, Y. Serruys, P. Trocellier, Forward recoil spectrometry, Plenum Press, New York 1996. [2] L. C. Feldman, J. W. Mayer, Fundamentals of surface and thin film analysis, North-Holland, New York 1986. [3] J. R. Tesmer, M. Nastali, Handbook of modern ion beam materials analysis, Materials research society, Pittsburgh 1995. [4] L. Frank, J. Král, Metody analýzy povrchů; iontové, sondové a speciální metody, Academia, Praha 2002. [5] A. Das, T. Ferbel, Introduction to Nuclear and Particle Physics, World Scientific Publishing, Singapore, 2003. [6] CERN Accelerator schoul, 2005, Small accelerators, http://cds.cern.ch/record/813710/files/CERN-2006-012.pdf?version=1 [7] James F.; Ziegler, J. P. Biersack, SRIM - The stopping and range of ions in matter (2010), , Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B, Volume 268, Issue 11-12, p. 1818-1823. [8] I. Úlehla, M. Suk, Z. Trka: Atomy, jádra, částice, Akademia, 1990. [9] A. Macková, N. Morton et al., Handbook of Spectroscopy, Edited by G. Gauglitz, T. Vo Dinh, Wiley, VCH Verlag, Weinheim, 2003. [10] L. C. Feldmann, J. W. Mayer, S. T. Picraux, Material Analysis by Ion Channelling, Academic Press, New York, 1982 [11] Ch. Kittel, Úvod do fyziky pevných látek, Academia Praha, 1985 [12] M. Mayer, SIMNRA manual, https://home.mpcdf.mpg.de/~mam/
|
Přednáška je zaměřena na fyzikální popis hlavních procesů probíhající při interakci nabitých částic s pevnou látkou, kdy dochází k řadě elastických a inelastických procesů, kterých se účastní dopadající ionty a atomy terčového materiálu. Součástí přednášky je základní popis těchto jevů, jejich fyzikálních principů a dále použití těchto procesů pro kvalitativní a kvantitavní prvkovou analýzu materiálů. V přednášce jsou akcentovány principy a aplikace iontových analytických metod, které se používají pro studium vlastností povrchů a rozhraní pevných látek. Dále budou přímo diskutovány význačné aplikace těchto principů v metodách využívajících pro analýzu pevných látek iontové svazky v elastických procesech s terčovými jádry (RBS Rutherfordův zpětný rozptyl, ERDA Analýza dopředně vyražených iontů, RBS-channeling) a v inelastických procesech s atomovým obalem terčových atomů, případně jaderných reakcích (PIXE protony buzená retgenovská fluorescence, NRA analýza pomocí jaderných reakcí). V závěru přednášky je presentován přehled iontových analytických metod, jejich použití a srovnání analytických možností, které poskytují (citlivost, hloubkové a plošné rozlišení, nejnižší detekovatelná dávka, informační hloubka atd.). Součástí přednášky je dále ukázka aplikací jaderných analytických metod a jejich možností na význačné materiály z oblasti optiky, elektroniky, biokompatibilních materiálů, materiálů s vysokou mechanickou odolností, radiačně odolných materiálů atd. Praktické prokázání znalostí provedením měření a vypracováním protokolu na vybrané problematice z okruhu přednášek, zpracování naměřených spekter s praktickou analýzou konkrétních vzorků, všeobecný znalostní test z oboru jaderných analytických metod a ústní zkouška.
|