|
Vyučující
|
-
Kormunda Martin, doc. Ing. Ph.D.
-
Pavlík Jaroslav, doc. RNDr. CSc.
|
|
Obsah předmětu
|
1. Principy a fyzikální základ spektroskopických metod pro analýzu složení látek. 2. Optické, emisní, absopční a flurescenční metody - OES (Optical Emission spektroscopy), GD OES (Glow Discharge Optical Emission spektroscopy), IRS (Infrared Spectroscopy), Raman spectroscopy, RBS (Rutherford Backscattering Spectrometry) , PIXE (Proton Induced X-ray Emission) 3. Elektronové - AES (Auger Electron Spectroscopy) EELS (Electron Energy Loss Spectrometry), XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy), UPS, 4. Iontové, hmotnostní - SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry), GD QMS (Glow Discharge Quadrupole Mass Spectromety), ESD
|
|
Studijní aktivity a metody výuky
|
|
nespecifikováno
|
|
Výstupy z učení
|
V průběhu přednášky budou studenti seznámeni s principy a možností využití základních metod analýzy složení materiálů. Po uvedení základních parametrů a řešených problémů následuje přehled nejdůležitějších technik využívaných k charakterizaci chemického složení povrchů. Tento kurz byl inovován v rámci projektu CZ.1.07/2.2.00/28.0296 "Mezioborové vazby a podpora praxe v přírodovědných a technických studijních programech UJEP"
|
|
Předpoklady
|
nespecifikováno
|
|
Hodnoticí metody a kritéria
|
nespecifikováno
|
|
Doporučená literatura
|
-
G. Ertl, J. Küppers. Low Energy Electrons and Chemistry, Verlag Chemie, GmbH, 1974.
-
Gary Attard, Colin Barnes. Surfaces, Oxford University Press, 1998.
|