Předmět: Characterization of surface layers using nuclear analytical methods

» Seznam fakult » PRF » KFY
Název předmětu Characterization of surface layers using nuclear analytical methods
Kód předmětu KFY/CM203
Organizační forma výuky Přednáška + Seminář
Úroveň předmětu Doktorský
Rok studia nespecifikován
Semestr Zimní a letní
Počet ECTS kreditů 0
Vyučovací jazyk Angličtina
Statut předmětu Povinně-volitelný
Způsob výuky Kontaktní
Studijní praxe Nejedná se o pracovní stáž
Doporučené volitelné součásti programu Není
Vyučující
  • Macková Anna, prof. RNDr. Ph.D.
Obsah předmětu
Kurz je určený zejména studentům, kteří se v rámci své dizertační práce zabývají modelováním interakcí částic s povrchy pevných látek. Kurz seznamuje s jevy probíhajícími při dopadu částic na povrch pevné látky a dále s využitím těchto procesů pro kvalitativní a kvantitavní prvkovou analýzu materiálů. - Elastické a inelastické procesy probíhající po dopadu nabitých částic na pevnou látku - Zdroje nabitých částic pro jaderné analýzy - Základní principy spektroskopie iontů, rtg. a gama záření - Základy jaderných analytických iontových metod RBS, ERDA, kvantitavní a kvalitativní analýza - Základy jaderných analytických iontových metod PIXE PIGE, NRA, kvantitavní a kvalitativní analýza - Metoda iontového kanálování v krystalických materiálech - Iontová mikrosonda a prvkové laterální mapování - Aplikace iontových analytických metod na různé typy materiálů ? citlivost, prvkové profilování, detekční limity - Elastické a inelastické procesy probíhající po dopadu neutronů na pevnou látku - Zdroje neutronů ? jaderné reaktory a základní instrumentace neutronové difrakce a NAA - Základní principy spektroskopie neutronů - NDP, NAA jaderné metody a jejich kvalitativní a kvantitavní možnosti - Praktická cvičení v laboratoři Tandetronu ÚJF AV ČR, v. v. i.

Studijní aktivity a metody výuky
nespecifikováno
Výstupy z učení
Kurz je určený zejména studentům, kteří se v rámci své dizertační práce zabývají modelováním interakcí částic s povrchy pevných látek. Kurz seznamuje s jevy probíhajícími při dopadu částic na povrch pevné látky a dále s využitím těchto procesů pro kvalitativní a kvantitavní prvkovou analýzu materiálů. - Elastické a inelastické procesy probíhající po dopadu nabitých částic na pevnou látku - Zdroje nabitých částic pro jaderné analýzy - Základní principy spektroskopie iontů, rtg. a gama záření - Základy jaderných analytických iontových metod RBS, ERDA, kvantitavní a kvalitativní analýza - Základy jaderných analytických iontových metod PIXE PIGE, NRA, kvantitavní a kvalitativní analýza - Metoda iontového kanálování v krystalických materiálech - Iontová mikrosonda a prvkové laterální mapování - Aplikace iontových analytických metod na různé typy materiálů ? citlivost, prvkové profilování, detekční limity - Elastické a inelastické procesy probíhající po dopadu neutronů na pevnou látku - Zdroje neutronů ? jaderné reaktory a základní instrumentace neutronové difrakce a NAA - Základní principy spektroskopie neutronů - NDP, NAA ? jaderné metody a jejich kvalitativní a kvantitavní možnosti - Praktická cvičení v laboratoři Tandetronu ÚJF AV ČR, v. v. i.

Předpoklady
nespecifikováno

Hodnoticí metody a kritéria
nespecifikováno
Doporučená literatura


Studijní plány, ve kterých se předmět nachází
Fakulta Studijní plán (Verze) Kategorie studijního oboru/specializace Doporučený ročník Doporučený semestr