-
A. Macková, N. Morton et al. Handbook of Spectroscopy, Edited by G. Gauglitz T. Vo Dinh, Wiley, VCH. Wiley, VCH Verlag, Weinheim, 2003.
-
Ch. Kittel. Úvod do fyziky pevných látek, Academia Praha, 1985.
-
J. R. Tesmer, M. Nastasi. Handbook of modern ion beam materials analysis,. Materials research society, Pittsburgh USA, 199.
-
L. C. Feldman, J. W. Mayer. Fundamentals of surface and thin film analysis. North-Holland, New York, 1986.
-
L. Frank, J. Král. Metody analýzy povrchů; iontové, sondové a speciální metody. Academia, Praha, 2002.
-
Tirira J., Serruys Y., Trocellier P. Forward recoil spectrometry, Plenum Press, New York 1996.
|