Přednáška je zaměřena na fyzikální popis hlavních procesů probíhající při interakci nabitých částic s pevnou látkou, kdy dochází k řadě elastických a inelastických procesů, kterých se účastní dopadající ionty a atomy terčového materiálu. Dále budou součástí přednášky jaderné analytické metody využívající neutronů pro prvkovou analýzu tj. neutronová aktivační analýza (NAA) a hloubkové profilování neutronovými svazky (NDP) na základě jaderných reakcí s lehkými jádry zkoumaného materiálu. Součástí přednášky je základní popis těchto jevů, jejich fyzikálních principů a dále použití těchto procesů pro kvalitativní a kvantitavní prvkovou analýzu materiálů. V přednášce jsou akcentovány principy a aplikace iontových analytických metod, které se používají pro studium vlastností povrchů a rozhraní pevných látek. A přímo diskutovány význačné aplikace těchto principů v metodách využívajících pro analýzu pevných látek iontové svazky v elastických procesech s terčovými jádry (RBS - Rutherfordův zpětný rozptyl, ERDA - Analýza dopředně vyražených iontů, RBS-channeling) a v inelastických procesech s atomovým obalem terčových atomů případně jaderných reakcích (PIXE - protony buzená retgenovská fluorescence, NRA - analýza pomocí jaderných reakcí). V závěru přednášky je presentován přehled metod, jejich použití a srovnání analytických možností, které poskytují (citlivost, hloubkové a plošné rozlišení, nejnižší detekovatelná dávka, informační hloubka atd.) Praktické prokázání znalostí provedením měření a vypracováním protokolu/prezentace na vybrané problematice z okruhu přednášek.
|
-
A. Macková, N. Morton et al. Handbook of Spectroscopy, Edited by G. Gauglitz T. Vo Dinh, Wiley, VCH. Wiley, VCH Verlag, Weinheim, 2003.
-
Ch. Kittel. Úvod do fyziky pevných látek, Academia Praha, 1985.
-
J. R. Tesmer, M. Nastasi. Handbook of modern ion beam materials analysis,. Materials research society, Pittsburgh USA, 199.
-
L. C. Feldman, J. W. Mayer. Fundamentals of surface and thin film analysis. North-Holland, New York, 1986.
-
L. Frank, J. Král. Metody analýzy povrchů; iontové, sondové a speciální metody. Academia, Praha, 2002.
-
Tirira J., Serruys Y., Trocellier P. Forward recoil spectrometry, Plenum Press, New York 1996.
|