Předmět: Pokročilé metody difrakčního studia povrchů a tenkých vrstev

» Seznam fakult » PRF » KFY
Název předmětu Pokročilé metody difrakčního studia povrchů a tenkých vrstev
Kód předmětu KFY/0227
Organizační forma výuky bez kontaktní výuky
Úroveň předmětu Magisterský
Rok studia nespecifikován
Semestr Letní
Počet ECTS kreditů 2
Vyučovací jazyk Čeština
Statut předmětu Povinně-volitelný
Způsob výuky Kontaktní
Studijní praxe Nejedná se o pracovní stáž
Doporučené volitelné součásti programu Není
Vyučující
Obsah předmětu
tematické okruhy: - RTG reflektivita - experimentální uspořádání, stanovení tloušťky a drsnosti epitaxních vrstev - experimentální uspořádání pro analýzu polykrystalických tenkých vrstev - analýza silně orientovaných nanokrystalických vrstev, studium typu a stupně textury polykrystalických vrstev - analýza profilů difrakčních linií a stanovení zbytkových napětí v tenkých vrstvách (mikrodeformace, resp. hustota dislokací), separace efektů napětí a velikosti koherentních domén.

Studijní aktivity a metody výuky
nespecifikováno
Výstupy z učení
Kurs navazuje na základní kurz RTG difrakce a zaměřuje se na základní experimentální techniky používané pro rtg. difrakční studium reálné struktury tenkých vrstev a to jak monokrystalických tak polykrystalických.

Předpoklady
nespecifikováno

Hodnoticí metody a kritéria
nespecifikováno
Doporučená literatura


Studijní plány, ve kterých se předmět nachází
Fakulta Studijní plán (Verze) Kategorie studijního oboru/specializace Doporučený ročník Doporučený semestr
Fakulta: Přírodovědecká fakulta Studijní plán (Verze): Aplikované nanotechnologie (A12) Kategorie: Speciální a interdisciplinární obory - Doporučený ročník:-, Doporučený semestr: -