a) základní funkce a uspořádáni TEM a SEM b) fyzikální základy mikroanalýzy: interakce elektronů s látkou, rozptyl elektronů, mechanizmy rozptylu, odražené elektrony, sekundární elektrony, rentgenové záření, Augerův jev c) funkce a konstrukce přístroje: elektronová optika, zdroje elektronů, příklady konstrukce elektronových trysek, vady zobrazeni, sférická vada, chromatická vada, astigmatizmus, optická soustava, formováni primárního svazku elektronů, vznik obrazu v TEM, kontrast a jeho závislost na přístrojových vlastnostech, rozlišovací schopnost TEM, tvorba obrazu a zpracováni detekovaných signálů v SEM. Vakuová soustava. d) Přehled nejužívanějších dostupných technik SEM: zobrazení: SE, BSE, mikroanalýza: EDS/WDS, STEM. e) Přehled nejužívanějších dostupných technik TEM: zobrazení BF, DF, mikroanalýza: SA(ED), LVSEM, PED f) Přehled pokročilejších technik: HRTEM, EELS, LVSEM, PED Součástí kurzu budou praktická cvičení, při kterých se studenti seznámí s přípravou vzorků pro sledování v elektronovém mikroskopu. Samostatně si připraví vzorky pro TEM a SEM. Získají představu o samostatné práci s prozařovacím a řádkovacím elektronovým mikroskopem.
|
-
A. Delong, L. Frank, Z. Knor, V. Kolařík, J. Komrska, M. Láznička, M. Lenc, B. Lencová, F. Máca, M. Rozsíval, J. Wild:. Metody analýzy povrchů. Elektronová mikroskopie a difrakce. Akademia - Praha 1996.
-
D. B. Williams, C. B. Carter. Transmission Elektron Mikroskopy: A Textbook for Materials Science. Plenum Press - New York 1996.
-
L. Reimer, H. Kohl. Transmission Electron Microscopy. Physics of Image Formation. Springer. Ferst Edition - Münster 2008.
-
L. Reimer. Scanning Electron Microscopy. Physics of Image Formation and Microanalysis. Springer. Sekond Edition - Münster 1998.
-
P. Bartl, A. Delong, V. Drahoš, I. Hrivňák, M. Rosenberg. Metody elektronové mikroskopie. Nakladatelství Československé akademie věd - Praha 1964.
-
V. Hulínský, K. Jurek. Zkoumání látek elektronovým paprskem. SNTL - Praha 1982.
|